型号：K-MAC ST2000-DLX 制造商：K-MAC 测量原理：基于分光反射法（Spectroscopic Reflectometry） 通过分析反射光谱或偏振光变化计算薄膜厚度及光学常数（n/k）。 核心优势：高精度、非接触测量，适…
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