对位曝光机GK002
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顶旭(苏州)微控技术有限公司是一家专注于微流控领域的高科技企业,我们致力于为客户提供微流控芯片定制、表面修饰改性、微流控芯片加工设备、以及微流控仪器等全面的微流控解决方案。公司团队拥有丰富的经验和技术积累,持续将专业知识与创新思维相结合,为客户提供高品质的解决方案。我们将始终坚持以客户为中心,不断挑战自我,不断追求卓越,通过专业、创新和合作,为客户创造更大的价值,共同开创微流控领域的美好未来。
本研究引入由双乳化微流控技术制备、配备蜂毒肽生物孔的巨型单层囊泡(GUV),作为多功能微米级隔室用于单菌培养。相比传统方法,微流控制备的 GUV 具有快速、高重复性及尺寸和成分可控等优势,适合比较研究及高通量筛选。聚合物膜的稳定性与可调性支持多种实验需求,成孔处理使营养物质与抗生素可进入囊泡内,从而实现对细菌微环境的精确调控。 参考文献:https://pmc.ncbi.nlm.nih.gov/articles/PMC10953582/ 1. 简介 抗生素耐药性严重威胁现代医疗,因此深入理解其机制对于开发新疗法至关重要。 群体异质性使细菌通过形成持久细胞对抗…
型号:K-MAC ST2000-DLX 制造商:K-MAC 测量原理:基于分光反射法(Spectroscopic Reflectometry) 通过分析反射光谱或偏振光变化计算薄膜厚度及光学常数(n/k)。 核心优势:高精度、非接触测量,适用于透明/半透明/不透明薄膜的快速检测,支持单层及多层膜分析。 规格参数: 参数 规格 光谱范围 190nm – 1100nm(紫外-近红外,可扩展至1700nm) 测量厚度范围 1nm – 100μm(取决于材料光学特性) 厚度分辨率 ≤0.1nm(SiO₂/Si 标准样品) 重复性 ≤±0.2nm(3σ,标准样品) 光斑尺寸 10μm – 5mm 可调(…
Bruker Dektak 150 测量原理:接触式探针扫描(机械探针+光学传感协同)。 核心功能:高精度表面台阶高度、粗糙度、薄膜厚度、沟槽深度等形貌参数测量,兼容4/6/8英寸晶圆及不规则样品。 规格参数: 型号 Dektak150(中端) 垂直分辨率 ≤1nm 测量范围 1nm – 1mm 最大样品尺寸 150mm(6英寸) 扫描长度 55mm 探针力 0.1mg – 30mg 自动化能力 半自动 典型应用 科研、MEMS
Veeco Dektak XT 测量原理:接触式探针扫描(机械探针+光学传感协同)。 核心功能:高精度表面台阶高度、粗糙度、薄膜厚度、沟槽深度等形貌参数测量,兼容4/6/8英寸晶圆及不规则样品。 规格参数: 型号 DektakXT(旗舰) 垂直分辨率 ≤0.1nm 测量范围 0.1nm – 1mm 最大样品尺寸 200mm(8英寸) 扫描长度 55mm(可扩展至100mm) 探针力 0.03mg – 30mg 自动化能力 全自动(Fab级) 典型应用 高端半导体、3D IC
1.占地小、稳定性高、操作与维护方便 2.产能高,涂胶机产能大于160片/小时 3.光刻胶用量小,薄胶4寸用量0.5ml 4.优异的流场设计,涂胶均匀性好。 规格参数: •1. 匀胶单元(COAT) •数量:标配3个工位 •转速范围: •自转:100-5000 RPM(闭环精准控制) •膜厚均匀性:±2%(@5000 RPM) •2. 烘胶单元(热盘/冷盘) •热盘数量:6个独立温控工位 •温度范围: •热盘:室温~300℃(±1℃) •冷盘:10℃~室温 •加热速率:3分钟内升至200℃ •3. 滴胶系统 •滴胶量范围:0.1mL~10mL(可调) •滴胶精度:±1%(高精度定量泵) •滴胶…
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